菲希爾X射線鍍層測厚儀

描述：菲希爾X射線鍍層測厚儀主要用于測量印制電路板上鍍層厚度及成分分析的入門級(jí)、耐用型測量儀。

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詳細(xì)內(nèi)容/ Product Details

品牌	Helmut Fischer/德國菲希爾	價(jià)格區(qū)間	50萬-100萬
產(chǎn)地類別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	能源,電子/電池

菲希爾X射線鍍層測厚儀

用途：

X射線鍍層測厚儀主要用于測量印制電路板上鍍層厚度及成分分析的入門級(jí)、耐用型測量儀。

菲希爾X射線鍍層測厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

1、樣品定位簡單：① XDLM-PCB 200型：首先PCB板將在儀器集成的激光點(diǎn)的協(xié)助下準(zhǔn)確放置于樣品臺(tái)上，然后將樣品臺(tái)如抽屜般推入儀器內(nèi)部；

②XDLM-PCB210和220：儀器配備了高精度、可編程的XY平臺(tái)并帶有彈出功能；激光點(diǎn)作為輔助定位，能幫助快速對準(zhǔn)測量位置；

2、高分辨彩色攝像頭，使得對準(zhǔn)測量位置的過程更加準(zhǔn)確、簡便；

3、通過強(qiáng)大且界面友好的WINFTM®軟件，可在電腦上便捷地完成整個(gè)測量過程，包括測量結(jié)果的數(shù)據(jù)分析和所有的相關(guān)信息的顯示等；

4、符合DIN ISO 3497和ASTM B568標(biāo)準(zhǔn)。

項(xiàng)目型號(hào)		XDLM-PCB200	XDLM-PCB210/220
通用規(guī)格	設(shè)計(jì)用途	能量色散X射線熒光光譜儀 (EDXRF) ，測量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu)樣品，分析合金組分
	元素范圍	從元素氯 (17) 到鈾 (92)，最多可以同時(shí)測定24種元素
工作臺(tái)	平臺(tái)	固定式樣品平臺(tái)帶有手動(dòng)拉出功能		馬達(dá)驅(qū)動(dòng)可編程X/Y平臺(tái)，帶有自動(dòng)彈出功能
	可用樣品平臺(tái)面積（寬×深）	（600 x 600）mm 2 帶擴(kuò)展板時(shí):（1200 x 900mm2		（600 x 600）mm2
	X/Y平臺(tái)最大移動(dòng)距離	\		450mm x 300mm
	X/Y平臺(tái)最大移動(dòng)速度	\		80mm/s
	X/Y平臺(tái)最大移動(dòng)精度	\		≤0.01mm（單向）
電器參數(shù)	電源要求	AC220V 50Hz
	功耗	最大120W（不包括計(jì)算機(jī)）
	保護(hù)等級(jí)	IP40
環(huán)境要求	使用溫度	10℃-40℃
	存儲(chǔ)或運(yùn)輸時(shí)的溫度	0℃-50℃
	空氣相對濕度	≤95%RH，不結(jié)露
設(shè)計(jì)單元	計(jì)算機(jī)	Windows®-PC
	軟件	標(biāo)準(zhǔn)：Fischer WinFTM® BASIC 可選：Fischer WinFTM® PDM®，SUPER
尺寸規(guī)格	外部尺寸（寬×深×高）	610mm×750mm×450mm			Xy樣品臺(tái)處于最大行程時(shí)： 1000mm×1265mm×470mm
		帶擴(kuò)展板時(shí)： 1200mm×1050mm×450mm			XY樣品臺(tái)處于初始狀態(tài)時(shí)： 650mm×810mm×470mm
重量		約86KG

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